アーカイブ: 2020年6月3日

「不良対策・品質改善にすぐに役立つ表面観察・分析ノウハウ」セミナー9/10(延期)開催予定

コロナ禍で、3月以降の技術セミナーは全て、中止または延期となっていました。

(セミナー講師以外の仕事への打撃も相当あったため、ブログ更新のエネルギーも沸きませんでした。スミマセンでした。)

本件も当初3/25の予定でしたが、主催者様のご尽力にて、以下リンクの通り9/10に開催の予定です。

主催者様より講師割引のご提案をいただいているので、参加希望の方からのご連絡をお待ちしております!

https://www.tech-d.jp/seminar/show/4800

本セミナーでは、あまり文章で見たことの無い、SEM観察での情報を十分に得る(得られるだけ得る!)ための、

電子部品の断面鏡面研磨の実践的ノウハウを開示する予定です。

宜しくお願い致します。

セミナー「技術者が知っておくべき 他社特許対策と自社特許強化への考え方」のご紹介

皆様、明けましておめでとうございます。
昨年12月に他社特許対策のセミナー講師を務めましたが、
自社特許含めてのセミナーの紹介です。
詳細は以下参照下さい。
https://www.science-t.com/seminar/B200341.html
講師紹介割引があります。
セミナー申し込む前にご連絡をお願い致します。